《芯片战爭》作者:西方對華“去風險”注定失敗
1年前
《芯片战爭》作者:西方對華“去風險”注定失敗
中新網8月6日電 當地時間4日,英國《經濟學人》網站刊登了一篇名爲《西方對華“去風險”战略注定失敗》的文章,作者爲美國塔夫茨大學歷史學教授、《芯片战爭》作者克裏斯·米勒。
文章首先介紹,在對華關系中,西方國家的策略已經從“脫鉤論”轉變爲“去風險論”。所謂“去風險論”,就是既要對中國實施技術和投資限制,又要保持貿易往來。
文章指出,“去風險”战略注定會失敗,並列舉了三點原因。
首先,中國雖然面臨着西方在技術和軍事方面的諸多限制,但中國有信心克服這些限制。
文章稱,西方國家實際上是希望在和中國的關系中,將與高科技產品相關的安全擔憂,與更廣泛的經濟關系分割开來。不過中國已經意識到,“去風險”的實質就是一種阻礙中國技術進步的策略,這一策略還試圖把中斷貿易對西方的損失降到最低。文章指出,中國有信心通過創新來應對西方的限制。
第二,西方的跨國企業並不愿意聽政客的花言巧語,反而正在積極重構與中國的關系,這些企業並不愿意將問題“政治化”。
第三,中國正在減少對西方制造技術的依賴,特別是在綠色能源領域,中國正努力減少對石油進口的依賴。
文章認爲,“去風險”政策注定失敗,但西方國家並不會善罷甘休,必將用新的限制措施進行回應。文章最後指出,無論是外交還是經濟問題,如果雙方都不讓步,將很難得到解決。不過,目前中國方面仍然有很多應對之策。
鄭重聲明:本文版權歸原作者所有,轉載文章僅為傳播信息之目的,不構成任何投資建議,如有侵權行為,請第一時間聯絡我們修改或刪除,多謝。
標題:《芯片战爭》作者:西方對華“去風險”注定失敗
地址:https://www.breakthing.com/post/86654.html